Prof. Zahn

Ausbildung:

• 1973 bis 1978 Physikstudium an der Friedrich-Schiller-Universität Jena
• 1982 Promotion (Untersuchungen an supraleitenden Quanteninterferometern - SQUID) FSU Jena
• seit 1982 wissenschaftliche Tätigkeit auf den Gebieten Prozeßmeßtechnik und Oberflächenanalytik
• 1993 Berufung an die Westsächsische Hochschule Zwickau

Lehrgebiete:

• Experimentalphysik
• Messtechnik
• Mikrostrukturanalyse, Elektronenmikroskopie
• Oberflächenanalytik

Forschungsgebiete:

• Oberflächenanalytische Untersuchungen mittels Rasterelektronenmikroskopie, Photoelektronenspektroskopie und Rastersondenmikroskopie
• Experimentelle Untersuchungen zum Schichtwachstum von Nanometerschichten

Ausgewählte Publikationen:

• Zahn, W.; Zösch, Antje; Schnabel, H.-D.: STS Investigations to describe corrosion procedures on thin CrN-layers Anal Bioanal Chem (2003)375,864-870
• Zahn, W.: Untersuchungen an Schlacken im analytischen Rasterelektronenmikroskop Alt-Thüringen (Jahresschrift des thüringischen Landesamtes für archäologische Denkmalpflege 2003), S. 61-63
• Zahn, W.; Hildebrand, D.; Menzel, S.; Oswald, S.; Heuer, H.: Characterization of thinTa-Si-Nx layers of different nitrogen content using XPS, UPS and STM Applied Surface Science (2005) 252, 89-93
• Baunack, S.; Hoffmann, V.; Zahn, W.: Quantitative Nitrogen Analysis by AES and GDOES Microchim. acta 2006
• Zahn, W.; Oswald, S.; Fülle, A.; Hildebrand, D.; Zier, M.; Wetzig, K. Growth studies of Ta-based films on Si with STM and XPS phys. stat. sol. (c) 4 No.6 (2007), 1830-1835

Kontakt:

Prof. Dr. Wieland Zahn

Westsächsische Hochschule Zwickau
Fakultät Physikalische Technik/Informatik
PF 201037
08012 Zwickau
+49 375 536 1510 (Peter-Breuer-Straße 8, Zimmer 404)
+49 375 536 1503
Wieland.Zahn[at]fh-zwickau.de