Oberflächenanalytik/Elektronenmikroskopie

 

Ausstattung des Labors:

UHV - Oberflächenanalytik :

  • Photoelektronenspektroskopie (XPS, UPS)
  • UHV-STM (Rastertunnelmikroskop)

Elektronenmikroskopie:

  • Tescan Mira 2 XMU
  • Energiedispersive Mikroanalyse LINK (Oxford Instruments) mit ATW- Detektor (Bor bis Uran)
  • Element-Verteilungsanalysen

Rastersondenmikroskopie:

  • Rasterscope 5000 (DME): AFM, STM, EC-STM, Spektroskopie
  • Naio-AFM
  • Naio-STM

Messtechnik:

  • Impedanzanalysator Sciospe ISX3
  • Keithley 2400 Source Meter

Anwendungen:

  • Dünne Schichten
  • Nanostrukturen
  • Werkstoffcharakterisierung

Aktuelle Forschungsthemen für Bachelor-, Master- und Doktorarbeiten:

  • Herstellung und Charakterisierung von Nanomaterialien bzw. Funktionsmaterialien für Anwendungen in der Sensorik
  • Elektrochemische Herstellung und Charakterisierung dünner Schichten für Anwendungen in der Elektronik und Sensorik
  • Materialcharakterisierung mit Impedanzspektroskopie
  • Charakterisierung von Werkstoffen, Werkstoffgrenzflächen und dünner Schichten

Ansprechpartner:

Prof. Dr. Christian Müller

Westsächsische Hochschule Zwickau
Fakultät Physikalische Technik/Informatik
Kornmarkt 1
08056 Zwickau

Postanschrift: PF 201037
08012 Zwickau

+49 375 536 1510 bzw. 1513
+49 375 536 1503
christian.mueller1[at]fh-zwickau.de